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苏州中科培训信息:Mentor Design-for-Test培训班

尊敬的先生 / 女士:

    您好!DFT技术已经成为IC设计中非常关键的一个步骤,对于量化生产更是举足轻重:首先是保证芯片质量,其次缩短产品上市时间,此外,采用DFT技术可以降低测试成本。Mentor公司提供的完备的、高质量、低成本的DFT设计流程,在DFT技术方面出于业界领先地位。这次培训涉及到内容包括测试综合、ATPG和BIST;涉及的Mentor产品有:
    ■ DFTAdvisor
    ■ Fastscan
    ■ TestKompress
    ■ MBISTArchitect
    ■ BSDArchitect
    ■ DFTInsight

     我中心将联合Mentor Graphics举行 “DFT培训班”。培训结束后我们将颁发“Mentor DFT”结业证书,欢迎对可测性设计技术感兴趣的用户参加。

     举办时间: 2004年10月23日-24日
     举办地点: 苏州市机场路328号国际科技园E301中科集成电路设计中心
     主讲教师: 敬伟

     敬伟背景:
     1993年~2000年在成都电子科大获得电子工程学士和硕士学位,专业方向为电子工程和数字信号处理。
     2000年~2002年在华为公司北研所,从事大规模数字ASIC前端设计和研发工作,主要负责代码设计、DFT和设计验证,曾经主导了多个大规模ASIC芯片的设计、测试和验证工作,对ASIC设计前端有深刻而独到的见解。
     2003年年初加入AcconSys公司负责Mentor Graphics公司DFT以及验证平台的技术支持和用户服务,曾经协助用户成功完成了一系列高质量的DFT设计,测试覆盖率都在98%以上,参与的芯片设计覆盖CPU、DSP、加解密、通信等广泛的领域。
     培训费用: 原价800 RMB/人,现由政府补贴50%,自费个人400RMB/人(包括工作午餐、教材费、证书费)
     联络人:丁一明 电话: 0512-62889097 传真:0512-62889111 E-MAIL:dingym@szicc.com.cn

     请填妥报名表后,传真或E-MAIL至我公司。
    
TWO days DFT Advanced Training Schedule:
   
    Day 1:
    Morning:
    1 Introduction
     Manufacturing test and the need for DFT
    2 DFT Methodologies & Applications
     DFT issues and methodologies for testing
     at chip, core, SoC, board and system levels
    3 Improving Test Quality
     Techniques for ensuring high coverage test sets
   
    LUNCH
   
    Afternoon:
    4 Saving Time & Money
     Cost factors of DFT, improving productivity
     and test set efficiency
    5 Recommendations & Conclusion
     Implementing DFT in today’s designs
    6 Mentor's DFT Solutions Overview
    7 Some Issues
     Clocking issues, Miscellaneous issues
    Lab or Demo
   
    Day 2:
    Morning: At-Speed Test: Improving Defect Detection for Nanometer Designs
     * Quality & At-Speed Test
     * At-Speed Logic Test
     - Defining At-Speed test
     - Path Delay & Transition Faults
     - At-Speed Patterns & Clocking
     - Issues & Solutions
     * At-Speed Memory Test
     - Memory BIST
     - Macro Testing
     * Conclusion
     * Issues in At-Speed Test
    Lab
   
    LUNCH
   
    Afternoon: Understanding your Options for Test Compression
     --Comparing Compression Methods
     * Comparison factors
     * Comparing the techniques
     - ATPG (automatic test pattern generation)
     - EDT (Embedded Deterministic Test)
     - Illinois Scan
     - DBIST (Deterministic Built-In Self-Test)
     - LBIST (Logic Built-In Self-Test)
     - Hybrids and other methods
     * Summary & Recommendations

    [url=http://www.szicc.com.cn/download/bmhz.doc]点击下载报名回执[/url]

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